本书详尽地分析了宇航环境中的辐射效应以及辐射导致的软错误机理，为理解宇航用FPGA和并行架构的软错误特性提供了理论基础。同时，本书也对现有的容错技术进行了系统的归纳和总结，为宇航用FPGA和并行架构的容错设计提供了丰富的实践经验。