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液晶热像传热测试技术

液晶热像传热测试技术

定  价:49 元

        

  • 作者:饶宇编著
  • 出版时间:2023/12/1
  • ISBN:9787313298584
  • 出 版 社:上海交通大学出版社
  • 中图法分类:TN216 
  • 页码:155
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:24cm
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读者对象:1本书可供从事液晶热像测试技术相关领域科研人员与工程技术人员以及高等学校高年本科生及研究生

本书较全面地介绍了液晶热像测试技术的原理、装置以及应用方法,剖析了传热测量误差的影响因素,并结合实验案例介绍了液晶热像在复杂结构表面传热测量中的应用。主要内容包括热色液晶的物理化学性质,液晶热像温度测量原理,液晶热像测量装置、校准及测量误差分析,以及液晶热像对复杂结构全表面传热测量的具体应用。
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