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空间电子仪器VLSI单粒子效应防护技术

空间电子仪器VLSI单粒子效应防护技术

定  价:65 元

        

  • 作者:王跃科 ,等 著
  • 出版时间:2010/11/1
  • ISBN:9787118072082
  • 出 版 社:国防工业出版社
  • 中图法分类:V443 
  • 页码:354
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:1
  • 开本:32开
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    《空间电子仪器VLSI单粒子效应防护技术》以空间电子仪器处理平台中最常用且对SEE敏感的FP-GA和DSP作为研究对象,针对日益迫切的单粒子效应防护设计问题,从器件应用这样一个全新的层面,研究FPGA和DSP的单粒子效应故障分析模型与故障特性、空间电子仪器高可靠体系结构、单粒子效应故障检测与加固技术和基于单粒子效应故障特性的故障注入验证技术。书中所提出的大多数设计思路与方法已在多个卫星信号处理设备中得到了成功应用。作者结合近十年的航天电子仪器设计经验,试图将空间电子仪器VLSI单粒子效应防护设计成果汇编整理成册,希望能够为航天电子系统的设计与研究提供一些有用的参考。
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