关于我们
书单推荐
新书推荐

X射线粉末衍射技术——测量与分析基础

 X射线粉末衍射技术——测量与分析基础

定  价:58 元

        

  • 作者:王春建 编著
  • 出版时间:2024/8/1
  • ISBN:9787122457202
  • 出 版 社:化学工业出版社
  • 中图法分类:O434.1 
  • 页码:
  • 纸张:胶版纸
  • 版次:
  • 开本:16开
9
7
4
8
5
7
7
1
2
2
0
2
2

本书内容主要分为五部分:X射线粉末衍射技术的发展历程和功能应用;X射线衍射仪器、光路配置、样品制备和测量过程;物相分析的基本原理、分析过程、注意事项、结果评价和部分实例;X射线衍射仪器的维护保养和辐射安全;X射线衍射技术的学习方法论。本书着重介绍衍射图谱的产生过程和各类影响因素,以及与物相分析功能的相关性。在测量技术方面,详细介绍了衍射仪中各类光路元器件的工作原理和参数设置,并对测量过程的每个环节进行了详细论述。在物相分析方面,针对最常用的物相鉴定功能开展了鉴定原理、鉴定方法、鉴定技巧、数据库应用等方面的详细论述,并为鉴定结果的可信度提出评估方法和依据;针对物相定量分析、微结构分析等深层次功能,由浅入深地介绍了数学原理的推导、功能发展的历程,以及部分案例的应用,并且论证了分析方法的简化过程等内容。最后对衍射仪的维护保养、X射线辐射安全等方面进行了详细介绍,并对X射线衍射技术的学习方法和技巧进行了深入讨论,总结性指出了技术能力晋升的途径。本书可作为相关专业本科生、研究生的教学用书,也可作为从事X射线衍射测量和物相分析工作的技术人员的参考书。

 你还可能感兴趣
 我要评论
您的姓名   验证码: 图片看不清?点击重新得到验证码
留言内容